
【器件论文】通过简单的一步空气环境热氧化工艺实现高性能多晶 β-Ga₂O₃/GaN 日盲光电探测器
日期:2025-08-01阅读:55
由韩国全南大学的研究团队在学术期刊 Applied Surface Science 发布了一篇名为 High performance polycrystalline β-Ga2O3/GaN solar blind photodetector realized via simple one step air ambient thermal oxidation process(通过简单的一步空气环境热氧化工艺实现高性能多晶 β-Ga2O3/GaN 日盲光电探测器)的文章。

摘要
通过采用一步热氧化法,成功制备了涵盖 β-Ga2O3/GaN 光探测器(PDs)的宽带(200–400 nm)紫外光响应器件,以替代复杂且传统的先进生长技术。本研究中,展示了一种可行、低成本且简单的马弗炉,用于空气氛围下的热氧化工艺。对来自退火单晶 GaN(0001)衬底的 Ga2O3 层进行了 XRD、AFM 和 SEM 表征,退火温度分别为 200、300 和 400 nm。在最佳温度 900 ˚C 下,形成了一层具有高度(-201)取向的多晶 β-Ga2O3 层,其半高宽(FWHM)值为 0.22,表面粗糙度为 11.41 nm,并呈现出规则的菱形晶体形态。XPS 和 EDS 分析进一步证实了 GaN 表面层向 Ga2O3 薄膜的转变。在 −5、−4 和 −3 的偏压下,响应度(R)分别测得为 10.86、8.34 和 7.06 A/W,而灵敏度(D)分别记录为1.32 × 1011、2.51 × 1011和3.93 × 1011 Jones,分别在 254 nm 光照下测得。光探测器的性能在 UVC 和 UVB 光照测量下均表现出重复且稳定的时域光响应。这些实验结果揭示了利用低成本马弗炉热氧化技术开发 Ga2O3 基日盲光探测器的潜力。
原文链接:
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2025.163919