【其他论文】基于径向分布函数的大规模 β-Ga₂O₃ 系统点缺陷识别算法

        近期，由天津大学的研究团队在学术期刊 The Journal of Physical Chemistry Letters 发布了一篇名为 A Radial Distribution Function Based Recognition Algorithm of Point Defects in Large-Scale β-Ga₂O₃ Systems（基于径向分布函数的大规模 β-Ga₂O₃ 系统点缺陷识别算法）的文章。

摘要

        本征缺陷的原子构型和浓度对半导体材料的电学和光学特性有着深远的影响。β-Ga₂O₃ 是一种极具前景的超宽禁带半导体，具有高度复杂的本征缺陷构型，这种影响对 β-Ga₂O₃ 尤为重要。尽管其重要性，但目前缺乏一种准确的方法在大规模原子计算模拟中识别这些缺陷。我们设计了一种有效的算法，用于在 β-Ga₂O₃ 晶格中明确识别各种本征点缺陷，该算法结合了粒子群优化（PSO）和 K 均值聚类（K-MC）方法。我们的算法达到了超过95%的识别准确率。最后，该算法被应用于动态模拟，探索动态实时检测的可行性。

原文链接：

https://doi.org/10.1021/acs.jpclett.4c02469