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【国际论文】基于β-氧化镓/氧化镍/β-氧化镓异质结结构的紫外线光电探测器
日期:2023-11-17阅读:194
近期,由日本石卷专修大学的研究人员在科学期刊《Optoelectronic Sensors》中发表了一篇名为Ultraviolet Photodetector Based on a Beta-Gallium Oxide/Nickel Oxide/Beta-Gallium Oxide Heterojunction Structure(基于β-氧化镓/氧化镍/β-氧化镓异质结结构的紫外线光电探测器)的氧化镓文章。
文章摘要
在本文中,我们制造了一个基于β-Ga2O3/NiO/β-Ga2O3结构的n–p–n结构。基于β-Ga2O3/NiO/β-Ga2O3结构的设备作为一个紫外(UV)光电探测器,与基于NiO/β-Ga2O3结构的p–n二极管进行了比较,在其中显示出整流和响应度增大10倍并放大了光电流。反向电流的增加与 1.5 倍紫外光强度成正比。光电流放大与NiO层中空穴的积累有关,因为由NiO层到β-Ga2O3层之间存在空穴的异质屏障。此外,该设备可以响应少于几微秒的光脉冲。
图 1. 器件的横截面结构及其俯视图。三个电极分别用 E、B 和 C 表示。
图 2. 在 (001) β-Ga2O3 衬底上形成的 β-Ga2O3 层和 NiO 层的 X 射线衍射图样(2θ-ω scan)。
原文链接:https://doi.org/10.3390/s23198332