
【外延论文】金属有机化学气相沉积原位刻蚀 β-Ga₂O₃ 和 β-(AlₓGa₁₋ₓ)₂O₃
日期:2025-08-20阅读:18
由美国俄亥俄州立大学的研究团队在学术期刊 Journal of Vacuum Science & Technology B 发布了一篇名为 Metalorganic chemical vapor deposition in situ etching of β-Ga2O3 and β-(AlxGa1−x)2O3 (金属有机化学气相沉积原位刻蚀 β-Ga2O3 和 β-(AlxGa1−x)2O3 )的文章。
摘要
本研究对 β-Ga2O3 在两种方法下的刻蚀效果进行了全面分析:一种是氢氮混合气体(H2-N2)刻蚀,另一种是在金属有机化学气相沉积系统中进行的三乙基镓(TEGa)原位刻蚀。通过在不同腔室压力下使用氢气和氮气的混合气体,并保持刻蚀温度恒定在 750°C,对 β-Ga2O3 的三种不同晶面取向:(010)、 (001) 及 (-201) 的刻蚀动力学进行了研究。场发射扫描电子显微镜分析表明,β-Ga2O3 的刻蚀行为取决于晶体取向,其中(010)取向表现出明显均匀且平滑的表面,表明其适用于垂直器件应用。通过 H2-N2 刻蚀在(010)衬底上制备出了高深宽比的 β-Ga2O3 鳍状阵列,鳍状结构的宽度为 2 μm,深度为 3.1 μm,且侧壁平滑且轮廓清晰。刻蚀过程实现了极高的刻蚀速率(>18 μm/h),且对压力和侧壁取向有很强的依赖性,揭示了刻蚀深度与表面平滑度之间的权衡关系。另外,对 TEGa 原位刻蚀进行了研究,将其作为 β-Ga2O3 和 β-(AlxGa1−x)2O3 薄膜的替代刻蚀技术。结果表明,(010)取向在保持更光滑侧壁和顶表面的同时,展现出相对较高的刻蚀速率,这有利于器件加工。相比之下,(001)取向对 TEGa 刻蚀表现出很强的抗性。此外,掺铝的 β-(AlxGa1−x)2O3 薄膜的刻蚀速率明显低于纯 β-Ga2O3,这表明它们在先进器件制造中具有作为有效刻蚀停止层的潜力。
原文链接:
https://doi.org/10.1116/6.0004620